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DSC-Mikroskopie-VerfahrenMesskurve + Bildinfo simultan

Mettler Toledo stellte auf der analytica 2010 in München ein neues System zur DSC-Analyse vor. Mit Hilfe eines Mikroskopieaufsatzes und angeschlossener Software lassen sich simultan DSC-Messkurven wie auch Bildinformationen der gemessenen Probe erhalten und korrelieren. Auch für ältere Instrumente der Baureihen DSC82x und Hochdruck-DSC Messmodule HP-DSCx bietet das Unternehmen eine Aufrüstung der Mikroskopieoption an.

DSC-Mikroskopie-Verfahren: Messkurve + Bildinfo simultan

Dieses kombinierte Analyseverfahren bietet folgende Vorteile:

  • Durch die optische Zusatzinformation lassen sich Effekte der DSC-Messkurve viel einfacher interpretieren. Artefakte, die z.B. durch die Bewegung (Schrumpfen/Ausdehnen während der Messung) der Probe entstehen, können nun eindeutig zugeordnet werden.
  • Farbänderungen der Probe, z.B. infolge thermischen Abbaus, werden sichtbar.
  • Eindeutiger Nachweis des Probenverhaltens: Schmelzen, Kristallisieren, usw.
  • Nachweis von Fest-fest-Umwandlungen.

Das DSC-Mikroskopie-Verfahren kann beispielsweise in folgenden Industrien Anwendung finden:

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Pharma: Polymorphie, Kristallisieren, Schmelzen, Sublimieren.

Kunststoff: Glasumwandlung, Schrumpfen, Zersetzung.

Lebensmittel: Bräunung, Zersetzung, Fließen.

Farben, Klebstoffe: Schrumpfen, Fließen.

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