
Instrumentelle Analytik Bequeme Handhabung Einfache Reinigung Variable Armaturen- bestückung Individuelle Material- kombinationen Korrosionsschutz durch PTFE- Auskleidung Reaktoren Druckauf_1 209 Weitere Informationen gibt es bei Labortechnik laboratorytechnology@berghof.com www.berghof.com Tel.: +49 7121 894-202 Wir stellen aus: Analytica 2010, München 23.
– 26.
März 2010 Halle: A1, Stand: 310 47 ?? Zerstäuber-Serie U ?? 253 ? AHF, Tübingen, Tel.
07071/970901-0, Fax 970901-10, www.ahf.de Nanopartikelanalyse auch bei geringen Konzentrationen In der Nanopartikelanaly- se besteht häufi g die Not- wendigkeit, kleine, schwach streuende Partikel bzw.
Par- tikel in extrem niedrigen Konzentrationen vermes- sen zu müssen.
Das neue Delsa™Nano HC löst speziell diese Fragestellung durch den Einsatz rauscharmer elektronischer Bauelemente in Verbindung mit einer an- gepassten Gerätegeomet- rie und einer optimierten Streulichtauswertung.
Hier- durch ist es möglich, auch geringste Streulichtimpulse sicher vom Grundrauschen zu trennen und z.B.
Prote- ine mit Konzentrationen von wenigen mg/ml sicher zu analysieren.
Wie beim Delsa™Nano C ist auch bei der HC-Version die Messung der Partikelgröße, des Zeta- potentials und des Zetapo- tentials fester Oberfl ächen möglich.
Partikelanalysengerät Delsa Nano HC ?? 255 ? Beckman Coulter, Krefeld, Tel.
02151/333-5, Fax 333-633, www.beckmancoulter.com lich.
Sichere Anwendung: Der passende UniFit-An- schluss gleitet ohne Mühe über das Probenanschluss- Rohr und ergibt eine aus- gezeichnete Abdichtung.
Es werden deshalb keine Luft- bläschen mehr angesaugt.
Durchgehende Vitri- Cone-Konstruktion: Da- mit wird der Probenkanal aus einer durchgehenden starkwandigen Kapillare aufgebaut, welche in en- gen Toleranzen hergestellt wird.
Folgende Vorteile er- geben sich: • Der Probenkanal ist über die gesamte Länge gleich- förmig konstant und ver- stopft deshalb nicht.
• Die massive und präzise bearbeitete Kapillare wi- dersteht Vibrationen und ergibt damit reproduzier- bare Ergebnisse in der Routineanalytik.
• Bestmögliche Herstel- lungstoleranzen stellen si- cher, dass jeder Zerstäuber dieselben engen Spezifi - kationen erfüllt und damit gegen gleichartige Zer- stäuber-Typen austausch- bar ist.
SeaSpray, MicroMist, Co- nikal und Slurry Zerstäuber der U-Serie sind für alle gän- gigen Geräte der ICP-OES und ICP-MS verfügbar.
Innovative GCxGC/MS-TOF-Gerätegeneration Bench TOF-dx-System ?? 129 ? GSG, Bruchsal, Tel.
07251/9819-0, Fax 9819-19, www.gsg-analytical.com Die GSG Mess- und Analy- sengeräte GmbH hat die Vermarktung der neuen BenchTOF-dx-Technologie der Firma Almsco für die GC-MS bzw.
GCxGC-MS übernommen.
Der Einsatz dieser High-Performance- Technik erlaubt die einfache und schnelle Analyse von komplexen halb- und leicht- fl üchtigen organischen Substanzen im Ultra-Spu- renbereich.
Diese innovative GCxGC- TOF/MS-Technologie mit einem Massenbereich von 1…1000 amu ermöglicht dem Anwender die Nut- zung einer einzigartigen Kombination aus Hochauf- lösung und Kosteneffi zi- enz.
Mit Hilfe der technisch ausgereiften direkten Io- nenextraktion (DX) werden die Ionen sofort nach der Ionenquelle durch eine Io- nenoptik linear in den Re- fl ektor des TOF-Analysators extrahiert.
Diese Technolo- gie verringert die bei der orthogonalen Ionenextrak- tion auftretende Ionendis- kriminierung.
Das Ergebnis ist somit eine verbesserte Empfi ndlichkeit.
Das BenchTOF-dx bie- tet seinen Anwendern die optimale Kombination aus Messempfi ndlichkeit eines typischen Quadrupol-MS im SIM-Modus und hoher Mess- geschwindigkeit über den gesamten Massenbereich eines TOF-MS bei hoher Massenaufl ösung.
Die neuartige Architektur mit neueste Ionenoptik und direkter Extraktionstech- nologie bieten eine High- Speed-Datenaufnahme (10 kHz) mit bis zu 100 „scan- sets“ je Sekunde.
Damit eig- net es sich hervorragend für die Kopplung mit einem GC und ist natürlich auch für die GCxGC-Analytik (2D-GC) bestens geeignet.
Für die umfassende Da- tenanalyse besteht neben der eigenen DX ViewTM Aus- wertesoftware die Möglich- keit der Spektrenintegrati- on in die Analysesoftware von Drittanbietern über die Schnittstelle DX ConnectTM.
Der robuste und leicht zu- gängliche Aufbau erleichtert die Routinewartung sowie die Automatisierung von Schlüsselparametern (z.B.
Detektoroptimierung).
Da- mit wird das BenchTOF zu einem wesentlichen Ins- trument für eine schnelle, hochaufl ösende und kosten- günstige GC/MS-Analytik.