LABO Juli/August 2010 48 31 ?? ANALYTIK-TRENDS Mikrowellen-Aufschlusstechnik Die CEM GmbH bietet einen Ausbildungs- und Anwender- kurs zur Mikrowellenaufschlusstechnik in ihren Firmenräu- men in Kamp-Lintfort an, und zwar am 07.
+ 08.
Dezember 2010.
Ziel dieses Anwenderkurses ist das eigenständige Ent- wickeln von Aufschlussmethoden.
Die Teilnehmer erfahren hier die theoretischen Grundlagen und insbesondere die Methodenentwicklung im Bereich mikrowellenassistierter Aufschlüsse.
Zu den praktischen Übungen können eigene Proben mitgebracht werden, die dann anhand der indivi- duellen Problemstellungen bearbeitet werden.
Der Kostenbeitrag für dieses 2-tägige Seminar beträgt 490,- € zzgl.
MWSt.
und beinhaltet u.a.
Seminarunterlagen und eine Hotelübernachtung.
Die Anmeldung kann per Mail an info@cem.de erfolgen.
? Neuartiges Bedienkonzept Oberfl ächenrauheitsmess- gerät Surftest SJ-210 ?? 58 ? Mitutoyo, Neuss, Tel.
02137/102-0, Fax 8685, www.mitutoyo.de Mehr Einsatzfl exibilität und Anwenderkomfort verspricht das jetzt vorgestellte neue Oberfl ächenrauheitsmessgerät Surftest SJ-210 von Mitutoyo.
Das transportable Kufensystem zur Bestimmung der Oberfl ä- chenrauheit wurde gezielt für den Einsatz in der Fertigungs- umgebung konzipiert.
Besondere Merkmale sind das große, übersichtlich ge- staltete 2,4-Zoll-LCD-Farb- display und die intuitive Menüführung für einfachste Bedienung.
Beides Faktoren, die sowohl für ein zügiges als auch ergebnissicheres Arbei- ten sorgen.
Ebenfalls äußerst praxis- orientiert ist der abnehmbare Vorschub des mobilen Geräts.
Er erlaubt die Nutzung einer- seits als Kompaktsystem mit integriertem Vorschub und andererseits – mit herausge- nommenem Vorschub – als ge- schickte Lösung für das Mes- sen an schwer zugänglichen Positionen.
Weiterhin möglich ist der Einsatz des Surftest SJ-210 im Messstativ oder in Kombination mit einem Hö- henmessgerät.
Als Einstiegsmodell der Surftest-Baureihe wartet das SJ-210 mit einer enormen Fülle von standardmäßig 39 Kennwerten für die Rauheits- analyse auf.
Damit liegt es deutlich über dem in dieser Geräteklasse sonst üblichen Kennwertumfang.
Ein we- sentlicher Aspekt für viele An- wender, da sie somit auch auf mögliche künftige Messauf- gaben umfassend vorbereitet sind.
Bemerkenswert vielseitig sind die Fähigkeiten des Ge- rätes bei der Darstellung und Ausgabe der Messergebnisse.
So wird bereits während der Messvorgangs das Messprofi l auf dem Display angezeigt.
Auch die Ausgabe mit un- terschiedlichen grafi schen Formen, wie Messprofi l, BAC- und ADC-Kurve zusätzlich zu den Messergebnissen, sind Leistungs-Pluspunkte.
Zudem ist es möglich, die Wiedergabe von Messergebnissen auf dem Display frei zu konfi gurieren – zum Beispiel als Einzelwert oder als beliebig lange Ergeb- nisliste.
Besuchen Sie Th.
Geyer im Internet www.thgeyer.de Raman-Systeme: Erweiterte Produktlinie Mikroskop-Serie alpha300 ?? 59 ? WITec, Ulm, Tel.
0731/14070-0, Fax 14070-20, www.witec.de WITec stellt die neue erwei- terte Produktlinie seiner al- pha300 Mikroskop-Serie vor, um den immer vielfältiger werdenden Kundenanforde- rungen Rechnung zu tragen.
Auf dem Gebiet der Raman- Mikroskopie ist das Mikro-Ra- man-System alpha300 M die neue Basis für die Aufnahme von Einzelspektren und Tie- fenprofi len.
Das alpha300 M+ ist zusätzlich mit einem Schrittmotor ausgestattet und ermöglicht Raman-Map- ping und die Untersuchung von großen Probenarealen.
Der Schrittmotor lässt sich ebenfalls im alpha300 R in- tegrieren.
Damit steht ein extrem leistungsfähiges Forschungstool (alpha300 R+)für die automatisierte Untersuchung von großen Proben und das hochaufge- löste 3D chemische Imaging zur Verfügung.
Das alpha300 ML bietet eine kosteneffek- tive Alternative für hoch- aufgelöstes Raman-Map- ping bei höchster spektraler Flexibilität im UV-, VIS- und NIR-Bereich.
Upgrades und Kombinationen mit der Ras- terkraft- oder der Optischen Nahfeld-Mikroskopie sind je- derzeit möglich.
Potenzielle zukünftige Anwendungsbe- reiche können damit kosten- günstig und einfach abge- deckt werden.
Ein wissenschaftliches optisches Mikroskop ist die Grundlage dieser modularen und fl exiblen Mikroskop-Se- rie.
Die verschiedenen Aus- prägungen und die hohe Sensitivität der einzelnen Mikroskop-Typen werden dadurch realisiert, dass nur optisch optimierte und prä- zise arbeitende Komponen- ten Verwendung fi nden.
Die Integrationszeit für ein Raman-Spektrum liegt damit bei unter 1 ms.
Ein großer Vorteil dieser hohen Emp- fi ndlichkeit ist die Redukti- on der Laserleistung auf ein Minimum, um auch sensi- belste Proben zerstörungs- frei zu untersuchen.
Ferner bietet sich die Möglichkeit, kleinste Materialkonzentra- tionen oder Materialien, die schlechte Raman-Streueigen- schaften aufweisen, doch noch der Raman-Spektrosko- pie zugänglich zu machen.
Zusammenarbeit von PSS mit Agilent Seit nunmehr über 10 Jahren besteht zwischen Agilent und PSS ein VAR- Partnerschaftsabkommen für GPC/SEC- Komplettlösungen.
Diese erfolgreiche Zusammenarbeit, die auch die Zweignie- derlassung in den USA umfasst, wurde erneut verlängert.
Agilent LC-Module werden bei PSS unter GPC/SEC-Bedingungen eingestzt, getestet und gewartet.
Auch der Ver- trieb der LC-Module erfolgt in enger Ab- stimmung mit dem Agilent Außendienst.
Weitere Infos unter www.polymer.de.
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