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PPMS-MesssystemJetzt auch mit AFM-Einsatz

Ab sofort bietet LOT für das bekannte Physical Property Measurement System (PPMS) von Quantum Design einen SPM-Einsatz an. Bei dem PPMS handelt es sich um eine Messplattform mit variabler Probentemperatur und variablem Magnetfeld. Die Temperatur reicht von kryogenen 1,9…400 K und der Magnet kann ein Feld von bis zu 9, 14 oder 16 T erzeugen.

PPMS-Messsystem: Jetzt auch mit AFM-Einsatz

Der Probenraum hat einen Durchmesser von etwa 25 mm – nicht viel, aber genug, um darin einen Mikroskopieeinsatz unterzubringen. Attocube – Hersteller des PPMS-SPM Einsatzes – verfügt nicht nur über langjährige Erfahrung mit Raster-Sonden-Mikroskopen, sondern auch über deren Betrieb bei kryogenen Bedingungen.

Als Mikroskopie-Modi sind Rasterkraft- (AFM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM) möglich sowie der Einsatz als Konfokalmikroskop (CFM). Das modulare Design erlaubt einen schnellen Tausch der Mikroskopieköpfe und eine einfache Bedienung.

Der SPM-Einsatz kann bei bestehenden PPMS-Systemen nachgerüstet werden. Selbstverständlich kann es auch bei Investitionen zusammen mit einem neuen PPMS erworben werden.

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Damit werden die „ab Werk“ verfügbaren Messoptionen für das PPMS um eine sehr interessante Option erweitert. PPMS-Anwender können neben den bisherigen Messungen von physikalischen „Bulk“-Eigenschaften (Transporteigenschaften, Wärmekapazität, magnetisches Moment) nun auch Abbildungen von Oberflächen und deren Eigenschaften (z.B. Magnetismus, Ladung usw.) erhalten.

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