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Mikrodefekte detektierenOberfächenkontrolle

Mit der Integration des patentierten Bildverarbeitungssys-tems trevista in die Prüfzellen der Produktfamilien VVC 610 und VVC 811 der Vester Elektronik wurde der Anwendungsbereich dieser kompletten Systemlösungen jetzt auf weitere Aufgaben der Qualitätskontrolle ausgedehnt. Diese Bildverarbeitungstechnologie erschließt das eindeutige, störungsfreie und sehr schnelle Detektieren von nur wenige Mikrometer großen Defekten und Verschmutzungen auf stark glänzenden oder diffus streuenden Oberflächen.

Mikrodefekte detektieren: Oberfächenkontrolle

Mit dem Bildverarbeitungswerkzeug trevista des Partner- unternehmens SAC, be- stehend aus speziell strukturiert angesteuerter LED-Dombeleuchtung und besonderen Bildverarbeitungsalgorithmen, können funktionsrelevante Lage- und Größenbeschreibungen (Topografie) von Beschädigungen eines Bauteiles extrem genau lokalisiert und in einer 3D-Abbildung dargestellt werden.

Aus Kontur, Schattierung und Helligkeitswerten werden die Informationen über die Form von Mikrodefekten generiert.

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