Wie viel Siliconöl brauchen Sie wirklich?

Nicht möglich, sagen Sie? Mit dem neuen Silicone Layer Explorer von rap.ID ist es möglich. Erstmals sind Sie damit in der Lage, die Dicke der Siliconschicht einer Spritze zu prüfen, ohne sie dabei zu zerstören. Auch bei befüllten Objekten kann zerstörungsfrei die Siliconschichtdicke und die örtliche Verteilung der Siliconschicht im Spritzenkörper in einem Arbeitsgang ab 50 nm gemessen werden. Sie erhalten dabei exakte Informationen über die Verteilung des Siliconöls z.B. in einem Spritzenkörper und erkennen sofort, ob sich an einigen Stellen Anhäufungen über 400 nm bilden oder die Siliconschicht nicht durchgängig ist.

Sie kontrollieren zielgerichtet Ihre Siliconisierung. Der Einfluss der Siliconisierungsparameter auf die Schichtdicke und Verteilung des Siliconöls in der Spritze lässt sich rasch und sicher darstellen. Die Spritze steht Ihnen nach der Messung zur Überprüfung mit Ihren bisherigen Verfahren, wie z.B. Kraftmessung, Differenzwägung, Extrahieren und HPCC, zur Verfügung.

Sie gestalten damit Ihren Prozess effektiver und können direkt eingreifen, da die Messung erfolgt, ohne den Behälter zu zerstören. So steigern Sie Ihre Qualität und vermeiden Rejects und aufwendige Prüfmechanismen in Ihrer Herstellung. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.siliconization.com.