Hochempfindliche Schwermetall-Analyse

„Gängige RFA-Geräte sind für schnelle Übersichtsanalysen und für die Quantifizierung vieler Elemente ausgelegt – ermitteln die Konzentration schwerer Elemente aber oft nur in Screening-Qualität“, erklärt Dirk Wissmann, Produktmanager für RFA bei Spectro. „Dabei sind gerade schwere Elemente wie Cadmium oder Antimon für viele Anwendungen sehr interessant. Daher haben wir unser Portfolio jetzt um das XEPOS HE ergänzt – ein Gerät, das alle Vorteile der modernen RFA bietet, aber durch seine innovative Bauart auch in der Lage ist, schwere Elemente selbst im ppm-Bereich zuverlässig zu quantifizieren.“

Highlight des SPECTRO XEPOS HE ist seine flexible Anregungsquelle: Das Gerät nutzt eine stabile Endfensterröhre mit einer Leistung von nur 50 Watt. Ein Target-Wechsler mit bis zu acht Polarisations- und Sekundärtargets ermöglicht, bei der Analyse mittlerer und schwerer Elemente eine für ein EDRFA-Gerät hervorragende Empfindlichkeit und Genauigkeit zu erreichen. Für besonders anspruchsvolle Umgebungen ist das XEPOS HE zudem mit einem SDD-Detektor mit großer Fläche ausgerüstet. Dieser bietet durch seine größere Oberfläche deutlich höhere Empfindlichkeiten und ermöglicht es damit, wahlweise deutlich schneller zu messen oder niedrigere Nachweisgrenzen zu erreichen.