Ellipsometer UVISEL
Spektroskopisches Ellipsometer
Neben anderen Messtechniken für die Schichtcharakterisierung bietet HORIBA Scientific das spektroskopische Ellipsometer UVISEL als High-End-System seit zwei Dekaden in der aktuell vierten Generation an. Kontinuierlichen Verbesserungen ist es zu verdanken, dass es dem Anwender eine beispiellose Sensitivität für die Messung zur Verfügung stellt.
Das UVISEL ist in verschiedenen Basismodellen lieferbar, die sich im zugänglichen Spektralbereich (FUV – VIS – NIR) und in der mechanischen Montierung (Goniometer, Mapping-Tische) unterscheiden. Darüber hinaus ist umfangreiches Zubehör wie unterschiedliche Flüssigkeitsmesszellen, Heiz- und Kühltische, Reflektometer oder In-Situ-Adapter für die Installation an Vakuumkammern erhältlich.
Dank der verwendeten Messmethoden liefert das UVISEL eine Empfindlichkeit, die es in die Lage versetzt, z.B. auch bei extrem dünnen Schichten Brechungsindex und Schichtdicke gleichzeitig zu ermitteln. Diese Trennung ist bei vielen Applikationen wie der Adsorption von (organischen) Schichten und bei High-k-Materialien notwendig.
Das könnte Sie auch interessieren
Analyse von Dünnschichten
Mit dem neuen Micro-Slurry-Jet-Erosion-(MSE-)Testsystem lassen sich Oberflächen mittels Bestrahlung durch Mikropartikel auf ihre Festigkeit prüfen.
mehr...Neue Messgeräte auf der Control vorgestellt
Beschichtungen und Materialdicken
Elcometer zeigte auf der Control 2016 neue Produkte für die Beurteilung von Beschichtungen und zum Messen von Wanddicken.
mehr...SONOTEC auf der Maintenance 2014
Zerstörungsfreie Materialprüfung
Das rechtzeitige Erkennen von Abnutzungs- und Korrosionserscheinungen an Lagertanks, Behältern, Rohren und Pipelines sowie Maschinen und Bauteilen schützt vor unangenehmen Überraschungen. Mit seinen Ultraschallmessgeräten der SONOWALL-Baureihe...
mehr...Korrosionsschutz sicherer mit Null-Offset
Für die Qualitätssicherung beim Korrosionsschutz ist die Beurteilung der Schichtdicke von signifikanter Bedeutung. Eine besondere Herausforderung liegt in der Bewertung von Schichtdicken auf rauen Oberflächen. Abhängig vom Messort kann der falsche...
mehr...Winfried Roggendorf ist neuer Geschäftsführer
Winfried Roggendorf heißt der neue Geschäftsführer der ElektroPhysik Dr. Steingroever GmbH & Co. KG. Seit Anfang März steht der Diplomingenieur als alleiniger Geschäftsführer an der Spitze des traditionsreichen Kölner Unternehmens.
mehr...Hochaufgelöste Dickenmessung
FRT bringt mit dem Dünnschichtsensor FTR ein spezielles Modell für die Dickenmessung transparenter dünner Schichten und Schichtsysteme auf den Markt, ein optisches Dünnschichtreflektometer.
mehr...LABO Einkaufsführer 2019
Alle wichtigen Marktübersichten zu instrumenteller Analytik und Bioanalytik
Zum Highlight der Woche...LABO Ausstellerporträts
Am 21. Mai 2019 startet in Hannover die Labvolution. Die LABO-April-Ausgabe mit dem großen Messeschwerpunkt erscheint am 26. April 2019 und liegt auch auf der Messe aus.
Zusätzlich zu Ihrer klassischen Anzeigenwerbung können Sie ein Ausstellerporträt buchen und auf Ihren Labvolution-Messestand einladen.
Zum Highlight der Woche...PANalytical führt neue RFA-Analysensoftware ein
PANalytical, der weltweit führende Anbieter von analytischen Röntgensystemen und -software, führt eine neue Software für Röntgenfluoreszenzanalysensysteme (RFA) ein. Das Unternehmen entwickelte Stratos, ein brandneues Softwarepaket sowohl für die...
mehr...Schichtdickenmessgerät LAYERCHECK 750 USB
Schichtdickenmessgerät: Zerstörungsfreie Messungen
Das kleine und robuste Schichtdickenmessgerät LAYERCHECK 750 USB wird für die schnelle und genaue, zerstörungsfreie Schichtdickenmessung auf metallischen Untergründen eingesetzt. Das Gehäuse besteht aus einem harten, verschleißfesten Werkstoff und...
mehr...Mit Ultraschall durch die Wand
Die leichten, kompakten Wanddickenmessgeräte von SONOTEC gestatten die präzise und schnelle Prüfung der Wandstärken von Rohren, Behältern und Bauteilen aus den unterschiedlichsten Materialien – und das zerstörungsfrei.
mehr...