Donnerstag 14.9.2017

Seminarreihe: Moderne Partikelmesstechnik

Das Seminar vermittelt einen umfassenden Überblick über modernste technische Lösungen und Verfahren der Korngrößencharakterisierung:
vom Nanopartikel bis zum Kieselstein.

Auch in diesem Jahr kombinieren die Seminare Theorie und Praxis, wobei der Schwerpunkt auf dem Vergleich von verschiedenen, etablierten Methoden der Partikelanalyse liegen wird.
Anhand von vielen Anwendungsbeispielen aus der Praxis werden Vor- und Nachteile der Methoden

  • Digitale Bildanalyse
  • Statische Laserlichtstreuung (Laserbeugung)
  • Siebanalyse

herausgearbeitet und gegenübergestellt.


Das Seminar wendet sich an alle Personen, die in ihrer täglichen Praxis vielfältige Fragestellungen bei der Charakterisierung von Pulvern, Granulaten, Suspensionen und Emulsionen bearbeiten. Es soll dabei eine Hilfestellung bei der Auswahl der optimalen Methoden und Interpretation der Analysenergebnisse geben.

Der umfangreiche Praxisteil bietet Ihnen die Möglichkeit, an verschiedensten Messgeräten zu arbeiten, um so alle Techniken und Methoden selbst zu erleben.

Weitere Informationen und Anmeldung

Veranstalter:

RETSCH Technology GmbH
Retsch-Allee 1-5
42781 Haan
Phone +49 2104 2333-300
Fax +49 2104 2333-399
E-mail: technology@retsch.com

Termininformationen:
Donnerstag 14.9.2017
Ort:
Haan (b. Düsseldorf)
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