Automatisiertes chemisches 3D-Imaging kombiniert mit AFM

„Eine automatische Probenanalyse beschleunigt die Messzyklen bei Routineaufgaben beträchtlich und garantiert damit eine schnelle Antwort auf problematische Fragestellungen bei reduzierten Betriebskosten“, stellt Dr. Klaus Weishaupt, Geschäftsführer Marketing und Vertrieb bei der WITec GmbH fest. „Die Kombination von konfokalem Raman-Imaging und Rasterkraftmikroskopie in einem automatisierten Gerät ist weltweit einmalig. Zum ersten Mal ist es möglich, große Proben nicht nur strukturell, sondern auch chemisch im Mikro- und Nanometerbereich umfassend und automatisch zu analysieren“, so Weishaupt weiter.

Von den automatisierten Funktionalitäten profitieren solche Applikationen am meisten, bei denen häufige und routinemäßige Messprozesse durchgeführt werden müssen. Wafer-Inspektion, pharmazeutisches Screening, standardisierte Beschichtungs- und Folienanalysen, Forensik oder Gewebe-Screening sind nur einige Beispiele aus einer Vielzahl von Anwendungsöglichkeiten.

Für das hochaufgelöste konfokale Raman-Imaging und für die Rasterkraftmikroskopie ist ein piezogetriebener Scan-Tisch mit kapazitiver Feedback-Regelung und einer dynamischen Positionskontrolle (TrueScan^TM) implementiert. Beim Raman-Imaging wird an jedem Bildpunkt ein komplettes Raman-Spektrum mit Integrationszeiten bis hinunter zu 760 µs aufgezeichnet, so dass Raman-Bilder, die aus mehreren zehntausend Spektren bestehen, in weniger als einer Minute aufgenommen werden können. Unterschiede in der chemischen Zusammensetzung lassen sich dadurch sichtbar machen und können mit einer Auflösung von bis zu 200 nm analysiert werden. Durch einfaches Drehen des Objektivrevolvers werden die AFM-Funktionalitäten zugänglich. Alle Standard AFM-Modi werden dabei unterstützt, so dass höchste Flexibilität bei allen gängigen AFM-Anwendungen gewährleistet ist.