Innovationen fürs Laboratorium
Misst die Stärke von Silikonbeschichtungen auf Papier
Jedes Jahr werden weltweit mehrere Milliarden Quadratmeter Papier mit Trennbeschichtungen aus Silikon überzogen. Um eine einheitliche Qualität des beschichteten Papiers sicherzustellen, muss die Silikonstärke während der Produktion regelmäßig gemessen werden. Als einer der führenden Hersteller von Röntgenfluoreszenzanalysegeräten hat SPECTRO für dieses Einsatzgebiet eine neue Applikation für das Gerät SPECTRO PHOENIX II entwickelt. Das robuste und günstige Benchtop-RFA-Spektrometer eignet sich für die Überwachung von Silikonauftragsgewichten von bis zu unter 1 g/m² und kann selbst in rauen Produktionsanlagen ausfallsicher betrieben werden.
Das Unternehmen hat die neue Applikation in einem Bericht dokumentiert. Dieser beschreibt die Messanordnung und die Ergebnisse mehrerer Testreihen. Das Dokument steht ab sofort unter http://www.spectro.com zum kostenlosen Download bereit.
Trennbeschichtungen aus Silikon dienen dazu, Papieroberflächen antihaftend zu machen. Das beschichtete Papier findet im Alltag als Backpapier oder etwa an der Unterseite von Aufklebern, Heftpflastern und anderen klebenden Oberflächen Verwendung. Die Industrie nutzt Trennpapiere als Träger für hitzehärtbare Flüssigkeiten: Diese werden auf dem Papier ausgehärtet, dann abgelöst und auf andere Träger laminiert. Das Verfahren kommt zum Beispiel bei der Herstellung von Kunstleder und Textilbeschichtungen zum Einsatz. Die Silikonbeschichtungen sind typischerweise 1…2 µm dick, was einem Auftraggewicht von 1…2 g/m² entspricht. Selbst geringe Abweichungen in der Silikonstärke wirken sich nachhaltig auf die Materialeigenschaften aus. Mit dem SPECTRO PHOENIX II haben die Papierhersteller die Möglichkeit, ihre Silikonbeschichtungen während des Fertigungsprozesses zu überwachen.
Das im Applikationsbericht dokumentierte Analyseverfahren ist sehr benutzerfreundlich: Der zuständige Mitarbeiter schneidet lediglich an verschiedenen Stellen der Papierrolle etwa 10 x 10 cm große Papierproben aus und legt diese in das Spektrometer ein. Der Messvorgang wird über einen leicht verständlichen Touchscreen gestartet. Das Gerät zeigt binnen weniger Minuten die exakte Schichtdicke an. Im Applikationsbericht beschreibt SPECTRO drei Messreihen mit Papier und Clay-gestrichenem LWC-Papier sowie variablen Schichtstärken. SPECTRO PHOENIX II lieferte in allen drei Anordnungen äußerst akkurate Messergebnisse mit Abweichungen von unter einem Prozent.
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