Multi-Element-Analyse unterschiedlicher Konzentrationen
Spectro Analytical Instruments hat die Einführung der neuen Generation des energiedispersiven Röntgenfluoreszenz-Spektrometers (ED-RFA) Xepos bekanntgegeben.
Gerührt – nicht geschwenkt
Ein wichtiger Aspekt bei der Probenpräparation für die Röntgenfluoreszenzanalyse mittels Schmelzaufschlüssen ist die Homogenisierung der Schmelze. Davon hängt im Wesentlichen ab, ob die Schmelztablette nach dem Abkühlen reißt oder mechanisch stabil bleibt.
mehr...Bestimmung des HBCD-Gehalts in Dämmstoffen
Aufgrund der aktuellen Abfallproblematik um das in Dämmstoffen möglicherweise enthaltene Flammschutzmittel HBCD hat die Spectro Analytical Instruments GmbH einer neuen Analysemethode des Fraunhofer-Instituts einem Praxistest unterzogen und zehn Polystytrolproben mithilfe der ED-RFA-Spektroskopie erfolgreich analysiert.
mehr...Portables RFA-Spektrometer
Für ICP-OES-Laboranalysen muss die Probe nach der Probennahme vor Ort ins Labor gebracht werden, wo sie höchstwahrscheinlich in eine Warteschlange gestellt wird.
mehr...Verbesserte Geschwindigkeit und Leistung
Spectro Analytical Instruments hat eine wesentliche Weiterentwicklung des Spectro xSORT RFA-Handspektrometers bekanntgegeben. Das Gerät wartet nun mit einer höheren Messgeschwindigkeit und einer verbesserten Leistung bei der Analyse von leichten Elementen auf.
mehr...Innovationszentrum für Bench-Top-RFA
Roentgenanalytik gehört nun zu Oxford Instruments
Oxford Instruments, Hersteller von High-Tech Instrumenten für Forschung und Industrie, startete mit einem Zuwachs ins neue Jahr: Roentgenanalytik Systeme GmbH & Co. KG in Taunusstein bei Frankfurt.
mehr...Neue Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
Analyse auch leichter Elemente
PANalytical präsentiert die verbesserten Epsilon 3X Tisch-Röntgenfluoreszenz-Spektrometer. Aufbauend auf der Erfahrung und dem großen Erfolg der ersten Generation wurden die neuen Systeme durch Einsatz der modernsten Entwicklungen von Anregungs- und Detektions-Technologien optimiert.
mehr...Hitachi High-Technologies Corporation übernahm SII NanoTechnology Inc.
Hitachi High-Technologies Corporation, Japan, hat SII NanoTechnology Inc., Japan, einen der weltweit führenden Hersteller von Material -Analysesystemen auf der Basis der Röntgenfluoreszenz, von Seiko Instruments Inc. übernommen.
mehr...RFA- und ICP-OES-Spektrometer
Auf der vom 24. bis 27. September 2013 in Basel stattfindenden Ilmac, der Fachmesse für Prozess- und Labortechnologie, zeigt SPECTRO die drei Geräte SPECTRO XEPOS, SPECTROSCOUT und SPECTROBLUE. Diese decken verschiedene Einsatzbereiche in der Elementanalytik der unterschiedlichsten Industrien ab. Messebesucher finden das Unternehmen in Halle 1.1 am Stand C87.
mehr...Handheld-RFA-Spektrometers SPECTRO xSORT
Handheld-RFA-Spektrometer
SPECTRO Analytical Instruments stellt die neueste Generation des energiedispersiven Handheld-RFA-Spektrometers SPECTRO xSORT vor. Das aktuelle Modell präsentiert sich noch kompakter und leichter als sein Vorgänger, erreicht eine bessere analytische Leistung und eröffnet den Anwendern Zugriff auf eine Vielzahl attraktiver neuer Funktionen.
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