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Neue Entwicklungen in der EDX-Analyse

Vom 16. bis 17. Juni veranstaltet die Bruker AXS Microanalysis GmbH bereits zum dritten Mal ein Kolloquium zum Thema Neue Entwicklungen in der EDX-Analyse am Raster- und Transmissionselektronenmikroskop.

In diesem Jahr wird neben der Kopplung verschiedener Analysenmethoden am REM auch die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) einen Schwerpunkt bilden. Am 16. Juni diskutieren bedeutende deutsche Experten auf dem Gebiet der Detektor-Physik und der Elektronenstrahl-Mikroanalyse, wie Prof. Dr. Lothar Strüder (MPI, München), Prof. Dr. Michael Wendt (IPHT, Jena) und Prof. Dr. Michael Schiekel (TU Dresden), neue Entwicklungen in der EDX-Analyse.

Zu den Themenschwerpunkten zählen Röntgendetektoren, die Elektronenstrahl-Mikroanalyse bei niedrigen Anregungsenergien und die standardfreie Analyse am Beispiel von Baustoffen.

Im Mittelpunkt des zweiten Kolloquiumstages stehen die Methodenkopplung am REM und die EDX-Analyse am TEM. Zu den Vortragsthemen gehören FIB-SIMs, Rückstreuelektronenbeugung (EBSD), Mikro-Röntgenfluoreszenzanalyse (µRFA) und die TEM-basierte EDX-Analyse an nanostrukturierten Materialien. Am Nachmittag dieses Tages gibt es für interessierte Anwender die Möglichkeit, individuelle Fragen mit den Applikationsspezialisten vor Ort zu besprechen.

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Die Teilnahme am Kolloquium ist kostenfrei und findet in den Räumen der Wista in Berlin-Adlershof statt. Weitere Informationen gibt es dazu unter www.bruker-axs-microanalysis.de

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