Tandem-SIMS-AnalysatorSimultane Erfassung von positiven und negativen Ionen
Hiden Analytical hat ein SIMS (Tandem-Sekundärionen-Massenspektrometer) mit FIB (Focused-Ion-Beam) zur simultanen Erfassung von Kationen und Anionen entwickelt.
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Der Tandem-SIMS-Analysator von Hiden Analytical ermöglicht neue Ansätze bei der Untersuchung und Optimierung von Ionenprozessen, die an Oberflächen und in Grenzschichten von Festoxidbrennstoffzellen (SOFC) oder Feststoff-Elektrolysezellen (SOE) stattfinden. (Bild: Hiden analytical)