Tandem-SIMS-Analysator

Simultane Erfassung von positiven und negativen Ionen

Hiden Analytical hat einen Tandem-SIMS-Analysator (SIMS = Sekundärionen-Massenspektrometer) mit FIB (Focused-Ion-Beam) zur simultanen Erfassung von Kationen und Anionen entwickelt und auf den Markt gebracht. Die Möglichkeiten, die das Tandem-SIMS Forschern bietet, gehen laut Unternehmen weit über die Untersuchung von Lithium-Ionen-Akkus hinaus: So sind z.B. neue Ansätze möglich bei der Untersuchung und Optimierung von Ionenprozessen, die an Oberflächen und in Grenzschichten von Festoxidbrennstoffzellen (SOFC) oder Feststoff-Elektrolysezellen (SOE) stattfinden.

Der Tandem-SIMS-Analysator von Hiden Analytical ermöglicht neue Ansätze bei der Untersuchung und Optimierung von Ionenprozessen, die an Oberflächen und in Grenzschichten von Festoxidbrennstoffzellen (SOFC) oder Feststoff-Elektrolysezellen (SOE) stattfinden. (Bild: Hiden analytical)

Auch bei der technischen Planung neuartiger Legierungen kann das Gerät eingesetzt werden. Es erlaubt in operando die Untersuchung von oberflächennahem Sauerstoff sowie die Bewertung von Korrosions-Haarrissen mit dem Fokus auf der Interaktion von Wasserstoff mit der Oberfläche und der Wanderung von Wasserstoff-Korngrenzen.

Das Kombigerät enthält zwei leistungsstarke Quadrupol-Massefilter mit 20 mm Stabdurchmesser, ermöglicht eine Auswertung in Echtzeit und bietet laut Unternehmen eine extrem hohe Auflösung, da beide SIMS in je zwei Stabilitätsbereichen arbeiten können. Die Umschaltzeit beträgt rund 100 ms. Eine Unterscheidung zwischen He und D2 ist möglich.

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