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Histologie in 3DNeue Färbemethode ermöglicht Nano-CT-Aufnahmen von Gewebeproben

Prof. Franz Pfeiffer montiert eine Probe am Nano-CT-Gerät

Bislang werden Gewebeproben von Patienten für histologische Untersuchungen in dünne Scheiben geschnitten. Das könnte sich in Zukunft ändern: Ein interdisziplinäres Team TUM hat eine Färbemethode entwickelt, die es erlaubt, dreidimensionale Gewebeproben mit dem ebenfalls kürzlich an der TUM entwickelten Nano-CT-Gerät zu untersuchen.

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Bench TOF-dx-SystemInnovative GCxGC/MS-TOF-Gerätegeneration

Die GSG Mess- und Analysengeräte GmbH hat die Vermarktung der neuen BenchTOF-dx-Technologie der Firma Almsco für die GC-MS bzw. GCxGC-MS übernommen. Der Einsatz dieser High-Performance-Technik erlaubt die einfache und schnelle Analyse von komplexen halb- und leicht-flüchtigen organischen Substanzen im Ultra-Spurenbereich.

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Bench TOF-dx-System: Innovative GCxGC/MS-TOF-Gerätegeneration

Diese innovative GCxGC-TOF/MS-Technologie mit einem Massenbereich von 1…1000 amu ermöglicht dem Anwender die Nutzung einer einzigartigen Kombination aus Hochauflösung und Kosteneffizienz. Mit Hilfe der technisch ausgereiften direkten Ionenextraktion (DX) werden die Ionen sofort nach der Ionenquelle durch eine Ionenoptik linear in den Reflektor des TOF-Analysators extrahiert. Diese Technologie verringert die bei der orthogonalen Ionenextraktion auftretende Ionendiskriminierung. Das Ergebnis ist somit eine verbesserte Empfindlichkeit.

Das BenchTOF-dx bietet seinen Anwendern die optimale Kombination aus Messempfindlichkeit eines typischen Quadrupol-MS im SIM-Modus und hoher Messgeschwindigkeit über den gesamten Massenbereich eines TOF-MS bei hoher Massenauflösung.

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Die neuartige Architektur mit neueste Ionenoptik und direkter Extraktionstechnologie bieten eine High-Speed-Datenaufnahme (10 kHz) mit bis zu 100 „scansets“ je Sekunde. Damit eignet es sich hervorragend für die Kopplung mit einem GC und ist natürlich auch für die GCxGC-Analytik (2D-GC) bestens geeignet.

Für die umfassende Datenanalyse besteht neben der eigenen DX ViewTM Auswertesoftware die Möglichkeit der Spektrenintegration in die Analysesoftware von Drittanbietern über die Schnittstelle DX ConnectTM.

Der robuste und leicht zugängliche Aufbau erleichtert die Routinewartung sowie die Automatisierung von Schlüsselparametern (z.B. Detektoroptimierung). Damit wird das BenchTOF zu einem wesentlichen Instrument für eine schnelle, hochauflösende und kostengünstige GC/MS-Analytik.

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