Oberflächendarstellungs-/Metrologie-Software Leica Map

Normgerechtes Messen von Oberflächen

Leica Microsystems und Digital Surf haben den Abschluss einer Vereinbarung bekannt gegeben. Danach wird die Leica Map-Oberflächendarstellungs- und Metrologie-Software, die auf Digital Surfs Mountains®-Technologie basiert, mit der Leica Application Suite (LAS) in Industriemikroskopen von Leica Microsystems verwendet. Mit der neuen Leica Map-Software lassen sich Merkmale gemessener Oberflächen sichtbar machen und quantifizieren, Oberflächenbeschaffenheiten und -geometrien charakterisieren sowie visuelle, nachverfolgbare Berichte darüber erstellen. Die Software ist in drei Ausführungen mit optionalen Modulen für fortgeschrittene Anwendungen verfügbar.

Die Basis-Software Leica Map Start wird zusammen mit LAS Montage verwendet. LAS Montage erwirbt eine Serie von Bild-Ebenen in einem festgelegten Abstand und deckt den fokussierten Bereich einer Probe in einem Leica-Mikroskop ab. Aus diesem Bilderstapel wird mit Leica Map eine Tiefenkarte und ein Extended-Fokus-Bild abgeleitet und analysiert. In Leica Map Start kann die Oberflächen-Topografie aus allen Winkeln in Echtzeit dargestellt werden. Die Möglichkeit, Farb- und Intensitäts-Bilder übereinander zu legen, erleichtert das Auffinden von Oberflächenmerkmalen und -fehlern. Es lassen sich Abstände, Winkel und Stufenhöhen messen. Höhenparameter und Funktionsparameter werden gemäß der neuesten Norm ISO 25178 über flächenmäßige Oberflächenbeschaffenheit berechnet. Optionale Module können die Leistung bei der Oberflächen-Analyse und Kontur-Analyse erweitern.

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Die Leica Map DCM-3D-Software ist speziell auf das Leica DCM-3D-Mikroskop mit Dual-Core-Technologie ausgerichtet, das konfokale Technologie mit Interferometrie verbindet und eine nicht-invasive Beobachtung von Mikro- und Nano-Strukturen in hoher Geschwindigkeit und Auflösung ermöglicht. Zusätzlich zu den Standardfunktionen von Leica Map Start bietet Leica Map DCM 3D fortgeschrittene Filtertechniken nach ISO 16610: So lassen sich Oberflächen-Rauheit und -Welligkeit trennen, grundlegende Funktionsanalysen durchführen, Teiloberflächen etwa aus mechanischen und elektronischen Komponenten erzeugen und analysieren.

Die Leica Map Produktserie vervollständigt die Leica Map Premium-Lösung, die sowohl mit taktilen und optischen Single-Point-Sensoren und Rastersondenmikroskopen als auch mit optischen Mikroskopen eingesetzt werden kann.

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