STA-System 449 F1 Jupiter

Flexibilität in der Thermischen Analyse

Simultane Thermische Analyse (STA) bezeichnet die gleichzeitige Anwendung von Thermogravimetrie (TG) und dynamischer Wärmestrom-Differenz-Kalorimetrie (DSC) auf ein und dieselbe Probe. Hier setzt NETZSCH mit Einführung der neuen STA 449 F1 Jupiter® neue Maßstäbe. Flexibilität ohne Grenzen bei der Gerätekonfiguration und unvergleichliche Performance sind Grundlage für vielfältigste Applikationen in den Bereichen Keramik, Metalle, Kunststoffe und Verbundwerkstoffe innerhalb eines weiten Temperaturbereiches (-150…2000 °C). Quantitative Informationen zu thermischer Stabilität, Abbauverhalten, Zusammensetzung, Phasenübergängen und spezifischer Wärme sind nur einige Beispiele der Anwendungen der neuen STA.

Beständigkeit trifft Innovation: Die bewährte oberschalige Probenanordnung in der hochvakuumdichten Konstruktion, ergänzt durch das neue äußerst präzise und langzeitstabile Wägesystem (25 ng Auflösung bei 5 g Wägebereich!) machen das neue Gerät zum Zugpferd der Thermischen Analyse in den Bereichen Forschung, Entwicklung und Qualitätssicherung.

Die umfassende serienmäßige Geräteausstattung und die Vielfalt optionaler Erweiterungen machen die Neuentwicklung heute und in der Zukunft zu Ihrem flexiblen und zuverlässigen Partner: Verschiedene, vom Anwender leicht zu wechselnde Öfen, oder sogar die schwenkbare Doppelhubvorrichtung für zwei Öfen, steckbare Probenträger (TG, TG-DSC, etc.), ein automatischer Probenwechsler (ASC) für bis zu 20 Proben und reichlich Zubehör, wie Probenbehälter in verschiedensten Formen und Materialien, stehen bereit. Eine zusätzliche MS- und/oder FT-IR-Kopplung lässt das Gerät zur chemischen Analyse-Station werden. Ausgezeichneter Service und begleitende Applikationsunterstützung komplettieren nach Herstellerangaben das neue STA Spitzenprodukt.

Anzeige
Anzeige

Das könnte Sie auch interessieren

Anzeige
Anzeige
Anzeige
Anzeige
Anzeige
Anzeige
Anzeige

Raman-Imaging

Mit aktiver Fokus-Stabilisierung

Mit neuen Raman-Imaging-Optionen bietet Witec seine aktuelle Software Suite Five an. Neben verbesserten und neuen Funktionen zur Aufnahme und Auswertung der Daten beinhaltet Suite Five jetzt eine Steuerung für die aktive Fokus-Stabilisierung, die...

mehr...

Imaging

Segmentierung korrelativer Mikroskopiedaten

Die Zeiss ZEN Intellesis-Plattform ermöglicht eine integrierte Segmentierung mikroskopischer 2D- und 3D-Datensätze für den Routineanwender. Sie ist für alle Licht-, Konfokal-, Röntgen-, Elektronen- und Ionenmikroskope von Zeiss erhältlich.  

mehr...