Software-Modul für Sauberkeitsanalyse

Von Makroskop bis Mikroskop

Das Software-Modul Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert von Leica Microsystems steht nun für eine größere Auswahl an Mikroskopen zur Verfügung. Damit kann ein erweiterter Anwenderkreis mit einem breiteren Anforderungsspektrum von den präzisen Messungen profitieren, die das Gerät für industrielle Anwendungen bietet. Der Leica Cleanliness Expert führt Restschmutzbestimmungen durch, wie sie etwa in der Automobilindustrie benötigt werden. Anwender können Längen-, Breiten- und Höhenmessungen von Partikeln vornehmen und reflektierende und nicht-reflektierende Partikel unterscheiden.

Zu den Leistungen der Software gehört auch die Dokumentation der Ergebnisse, die vollständig reproduzierbar sind. Da solche detailreichen Messungen bei der Sauberkeitsanalyse nicht immer erforderlich sind, hat Leica Microsystems den Leica Cleanliness Expert für verschiedene zusätzliche Anforderungen angepasst.

"Anwender des Leica Cleanliness Expert schätzen die benutzerfreundliche Bedienoberfläche, den Algorithmus zur Differenzierung reflektierender und nicht-reflektierender Partikel, die Messung der Länge, Breite und Höhe der meistens nicht gleichmäßig geformten Partikel sowie die Transparenz der Ergebnisse", erklärt Dr. Kay Scheffler, Produktmanager bei Leica Microsystems.

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Das Mikroskopsystem Leica DMS300 Cleanliness Expert beispielsweise erlaubt Längen- und Breitenmessungen kleinster Partikel bis 20 Mikrometer sowie die Differenzierung zwischen reflektierenden und nicht-reflektierenden Partikeln.

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