Röntgenmikroskopie

Höhere Auflösung erweitert Forschungsmöglichkeiten

Forschenden der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), des Schweizer Paul-Scherrer-Instituts und weiterer Einrichtungen aus Paris, Hamburg und Basel ist gemäß Angaben der FAU ein Rekord in der Röntgenmikroskopie gelungen: Mit verbesserten Beugungslinsen und exakterer Positionierung der Proben erreichen sie eine räumliche Auflösung im einstelligen Nanometerbereich. Diese neue Dimension der direkten Bildgebung könnte für die Erforschung von Nanostrukturen und für die Entwicklung von Solarzellen und neuartigen magnetischen Datenspeichern von Nutzen sein. Die Ergebnisse wurden im Fachjournal Optica unter dem Titel „Soft x-ray microscopy with 7 nm resolution“ veröffentlicht.

Die Mikroskopie mit weicher Röntgenstrahlung, also mit Röntgenstrahlen niedriger Energie, wird zur Untersuchung von Materialeigenschaften im Nanobereich eingesetzt. Mit der Technologie kann beispielsweise die Struktur organischer Filme bestimmt werden, die in der Solarzellen- und Batterieentwicklung eine wichtige Rolle spielen. Ebenso können chemische Prozesse oder katalytische Reaktionen von Partikeln beobachtet werden. Darüber hinaus lassen sich sogenannte Spin-Dynamiken untersuchen: Elektronen können nicht nur elektrische Ladung transportieren, sie haben auch einen inneren Drehsinn, der für neuartige magnetische Datenspeicher genutzt werden könnte.

Prof. Dr. Rainer Fink, Lehrstuhl für Physikalische Chemie II der FAU. © Harald Sippel / FAU

Um diese Prozesse künftig besser erforschen zu können, ist ein „Zoom“ in den einstelligen Nanometerbereich erforderlich. Theoretisch ist das mit weicher Röntgenstrahlung möglich, praktisch konnte eine räumliche Auflösung von unter zehn Nanometern jedoch bislang nur mit indirekt bildgebenden Methoden erreicht werden, die eine nachträgliche Rekonstruktion erfordern. „Für dynamische Prozesse, etwa chemische Reaktionen oder magnetische Interaktionen von Partikeln, benötigen wir jedoch einen direkten Blick auf die Strukturen“, erklärt Prof. Dr. Rainer Fink vom Lehrstuhl für Physikalische Chemie II der FAU. „Die Röntgenmikroskopie ist dafür besonders geeignet, weil sie deutlich flexibler in magnetischen Umgebungen genutzt werden kann als etwa die Elektronenmikroskopie.“

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Fokussierung und Kalibrierung entscheidend
Die FAU-Wissenschaftler haben gemeinsam mit Forschenden des Paul-Scherrer-Instituts und weiteren Einrichtungen aus Paris, Hamburg sowie Basel haben gemäß Angaben der FAU nun eine „Schallmauer“ der Röntgenmikroskopie durchbrochen: Ihnen gelang eine Rekordauflösung von sieben Nanometern in gleich mehreren verschiedenen Experimenten. Dieser Erfolg basiert nicht primär auf leistungsstärkeren Röntgenquellen, sondern auf einer besseren Fokussierung der Strahlen durch Beugungslinsen und einer exakteren Kalibrierung der untersuchten Proben. „Wir haben die Strukturgrößen sogenannter Fresnel-Zonenplatten optimiert, mit denen die Röntgenstrahlen gebündelt werden“, erklärt Rainer Fink. „Zusätzlich konnten wir die Proben mit einer sehr viel höheren Genauigkeit im Gerät positionieren, und zwar reproduzierbar.“ Gerade die eingeschränkte Positionierung und die Stabilität des Gesamtsystems haben eine bessere Auflösung bei der direkten Bildgebung bislang verhindert.

Bemerkenswert ist, dass die Rekordauflösung nicht nur mit speziell designten Teststrukturen, sondern auch in praktischen Anwendungen erreicht wurde: Mit ihren neuen Optiken haben die Wissenschaftler beispielsweise die magnetische Orientierung von Eisenpartikeln in Größen von fünf bis 20 Nanometern untersucht. Fink: „Wir gehen davon aus, dass unsere Ergebnisse die Erforschung insbesondere von Energiematerialien und Nanomagnetismus voranbringen wird. In diesen Bereichen liegen die relevanten Strukturgrößen häufig unterhalb des bisherigen Auflösungslimits.“
Das Projekt wurde vom Bundesministerium für Bildung und Forschung (BMBF), von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) und vom Forschungs- und Innovationsprogramm EU-H2020 gefördert.

Originalpublikation:
Benedikt Rösner et al.: Soft x-ray microscopy with 7 nm resolution; Optica Vol. 7, Issue 11 (2020); https://doi.org/10.1364/OPTICA.399885

Quelle: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)

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