ICP-OES

Mehr Flexibilität durch 2+2-Plasmabeobachtung

Die Dual-View-Plus-Plasmabeobachtung des PlasmaQuant® PQ 9000 von Analytik Jena setzt hinsichtlich Produktivität und Bedienkomfort in der der HR ICP-OES neue Standards.

ICP-OES-Gerät PlasmaQuant® PQ 9000 Elite mit Dual-View-Plus-Plasmabeobachtung

Durch Dual View Plus wird die gemeinsame Auswertung der Spektralinformation der Längs- und Querrichtung eines vertikalen Plasmas und somit die gleichzeitige Bestimmung von Ultraspurenelementen (axial) und Hauptbestandteilen (radial) am PlasmaQuant PQ 9000 zur einfachen Routineanwendung.

Durch die komplementäre Abschwächung von axialer und radialer Plasmabeobachtung ermöglicht Dual View Plus größere dynamische Arbeitsbereiche und eine bessere Signalstabilität. Die rasche Anpassung der Plasmabeobachtung an erforderliche Empfindlichkeiten und Arbeitsbereiche sorgt für Bedienflexibilität bei hohem Probendurchsatz.

Dual View Plus ermöglicht eine freie Auswahl von 2+2-Plasmabeobachtungsrichtungen in der Routine sowie höchste Geräteflexibilität anstelle langwieriger Probenvorbereitungen.

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