Seminar: Röntgen­diffraktometrie für die Praxis

Sie erhalten einen umfassenden Überblick zum aktuellen Stand der Gerätetechnik und die Einsatz­mög­lich­keiten der röntgen­ographischen Phasenanalyse.
Die Einflüsse der Proben­präparation und der verwendeten Beugungsgeometrie auf das Analy­se­er­gebnis werden vorge­stellt. Dabei wird die volle Problembreite berück­sichtigt (geringe Mengen, Luft­em­pfindlichkeit, Vorzugs­orien­tierungen, Routine­unter­suchungen an Pulvern und kompakten Material, dünne Schichten, zerstörungsfreie Werkstoff­prüfung). Nachweis­grenzen und Reflex­auflösungen werden bewertet.
Neben der quali­ta­tiven Phasenanalyse (Infor­ma­ti­ons­gehalt und Strategien im Umgang mit der Datenbank) bildet die Diskussion der einzelnen Methoden der quanti­ta­tiven Phasen­analyse mit ihren Vor- und Nachteilen und somit unter­schied­lichen prakti­schen Einsatz­mög­lich­keiten einen wesent­lichen Schwer­punkt. Praxisnah werden (Mikro-) Absorption und Vorzugs-orien­tierungen einbezogen. Die Rietveldmethode wird in ihren Grundzügen vorge­stellt und an Beispielen demonst­riert. Fragen zur Bestimmung des amorphen Anteils und der Kristallinität sowie von Kristallitgrößen werden behandelt. Eine Spezi­fi­zierung anhand bereitgestellter Daten der Teilnehmer ist erwünscht.
Das Verständnis für die einfache Handhabung von Textur und Eigen­span­nungen wird vermittelt. Die Möglich­keiten und Probleme bei der Erfassung dynamischer Prozesse (Hoch­temperatur­messungen) werden disku­tiert.

Veranstalter:

Technische Akademie Wuppertal e.V.
42097 Wuppertal
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