Materialanalyse dünnster Beschichtungen
Nicht nur Schichtdickenmessgerät
Oxford Instruments führt ein neues Messgerät für die Schichtdickenmessung und Materialanalyse ein, das Maxxi 6. Dieses neue Modell im Mid-Range- und High-End-Bereich basiert auf der Röntgenfluoreszenz-Analyse, verfügt über einen hochauflösenden Silicium-Drift-Detektor (SDD) und misst dünnste Beschichtungen im Nanometerbereich sowie die Elementzusammensetzung im Spurenbereich.
Das neue Messgerät kann feste oder flüssige Stoffe über einen weiten Elementbereich von 13Al bis 92U analysieren. In Kombination mit einem hochauflösenden SDD können dünnste Beschichtungen bis in den Nanometerbereich und die Elementzusammensetzung im Spurenbereich gemessen werden. Dies ist z.B. in der Galvanotechnik oder bei der Leiterplattenherstellung erforderlich.
Acht einstellbare Blenden decken alle Anwendungsanforderungen ab, der SDD arbeitet im gesamten Energiebereich mit einer Auflösung bis zu 140 eV.
Mit einer unbegrenzten Elementauswahl und Schichtstruktur für die Schichtdicken- und Materialanalyse eignet sich das Maxxi 6 für die Bereiche Metallverarbeitung, Elektronik, Konformitätsprüfung, Metalllegierungen und alternative Energien.
Das Maxxi 6 wird in Deutschland hergestellt, ist von der PTB (Physikalisch Technische Bundesanstalt) zugelassen und bietet ein Höchstmaß an Strahlenschutz.
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