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RasterelektronenmikroskopeFür High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie

Zeiss präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskope (FIB-REMs) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie. 

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Rasterelektronenmikroskop
Zeiss Crossbeam 550 setzt neue Maßstäbe in der 3D-Analytik und Probenpräparation bei FIB-REMs - gesteigerte Auflösung und schnellere FIB-Materialbearbeitung.
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