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SPECTRO XEPOS

SPECTRO XEPOS

Neue Hardware für niedrigere Nachweisgrenzen: ¿Unser Ziel war es, die ohnehin sehr guten Nachweisgrenzen des XEPOS noch weiter zu senken, um langfristig den Analysevorgaben der Norminstitute zu genügen¿, berichtet Dirk Wissmann, Produktmanager für RFA bei SPECTRO. Daher wurde das XEPOS mit einem Si-Drift-Detektor der neuesten Generation ausgestattet. Besonders bei der Analyse leichter Elemente erreicht das EDRFA-Gerät so deutlich niedrigere Nachweisgrenzen als sein Vorgänger. Auf die Prozesse im Labor zugeschnitten ist der Präzisions- probenteller der neuen XEPOS-Generation: Er verfügt über zwölf Positionen für Proben mit 32 oder 40 mm Durchmesser. Labormitarbeiter haben auf diese Weise die Möglichkeit, das XEPOS einmalig zu bestücken und anschließend im unbeaufsichtigten Betrieb analysieren zu lassen. Neben der Aktualisierung der Software wurde diese um einen intuitiven Method-Wizard ergänzt, der Laboranwender durch eine Schritt-für-Schritt-Anleitung bei der Erstellung eigener Methoden unterstützt. Typische Anwendungsgebiete für die neue Generation des SPECTRO XEPOS sind Übersichtsanalysen der in der RoHS festgelegten Grenzwerte für die Elektro- und Elektronikindustrie. Darüber hinaus überzeugt das XEPOS in der chemischen und petrochemischen Industrie, bei der Untersuchung von Erzen und Konzentraten oder bei der Analyse von Beschichtungen. Durch den Einsatz zusätzlicher Sekundärtargets können die Nachweisgrenzen für bestimmte Elemente abermals deutlich gesenkt werdenDank dieser besonders niedrigen Nachweisgrenzen eignet sich das XEPOS für zahlreiche Umweltapplikationen, die klassischen EDRFA-Geräten bislang verschlossen waren.

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