
Ultraschnelles Elektronenmikroskop
Quantenzustand freier Elektronen bestimmt
Forschern der Universität Göttingen ist es gelungen, Elektronenblitze zu formen und zu messen, die kürzer als ein einzelner Lichtzyklus sind.

Zeiss präsentiert eine neue Generation Fokussierter Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskope (FIB-REMs) für High-End-Anwendungen in Forschung und Industrie.
Ein internationales Forscherteam unter Führung Jülicher Wissenschaftler nutzte das Verfahren der Cryo-Elektronenmikroskopie, um ein Modell der Filamente des Bakteriums in atomarem Detail zu erstellen.

Das Jeol JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Es stellt ein einfach zu bedienendes, vielseitig einsetzbares Forschungs-REM in ergonomischer Kompaktausführung dar.
50 Jahre Rasterelektronenmikroskopie
Zeiss feiert den 50. Jahrestag der kommerziellen Rasterelektronenmikroskopie. Im Jahr 1965 fertigte die Cambridge Instrument Company, ein in Großbritannien ansässiges Unternehmen, das erste kommerzielle Rasterelektronenmikroskop (REM) Stereoscan.
Tescan Orsay Holding und WITec stellen auf der analytica das gemeinsam entwickelte RISE-Mikroskop vor. Die RISE-Mikroskopie ist eine weltweit einzigartige korrelative Mikroskopietechnik, die erstmals konfokales Raman-Imaging mit Scanning-Electron-(RISE-)Mikroskopie in einem Gerät zusammenführt.