GD-OES

Artikel und Hintergründe zum Thema

Prinzipielle Funktionsweise des patentierten Verfahrens der differentiellen Interferometrie Profilierung (DiP) bei der Glimmentladungsspektroskopie.

TiefenprofilanalyseGlimmentladungsspektroskopie

Horiba Scientific ergänzt die Technik der Tiefenprofilanalyse mittels Glimmentladung um eine patentierte Innovation, der direkten Bestimmung der Kratertiefe mittels differentieller Interferometrie (DiP).

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Schnelle, simultane Elementanalytik: Neue Broschüre beschreibt Glimmentladungsspektrometer GD-OES Profiler

Schnelle, simultane ElementanalytikNeue Broschüre beschreibt Glimmentladungsspektrometer GD-OES Profiler

Das Glimmentladungsspektrometer GD-OES Profiler von Horiba Scientific bietet die schnelle, simultane Analyse von allen Elementen inklusive Stickstoff, Sauerstoff, Wasserstoff, Fluor und Chlor in festen Proben.

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Glimmentladungsspektrometer: Lithium-Analyse mit GD-OES

GlimmentladungsspektrometerLithium-Analyse mit GD-OES

In den zurückliegenden Jahren wurden immer mehr Batterien auf Lithiumionenbasis in transportablen elektrischen und elektronischen Geräten eingesetzt. Der nächste Entwicklungsschritt dieser Technologie sieht die Verbesserung der Leistungsdaten wie z.

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GD-OES: weitere Informationen

Zum Thema GD-OES haben wir weitere Informationen für Sie zusammengestellt:

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