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Artikel und Hintergründe zum Thema

Materialanalyse

Röntgenmikroskopie

Noch schneller im Nanobereich

Das Unternehmen ZEISS hat jetzt ein neues Röntgenmikroskop (XRM) im Programm, das die dreidimensionale Bildaufnahme im Nanobereich um das Zehnfache beschleunigt. Das Mikroskopsystem wurde auf der Microscopy & Microanalysis in Indianapolis am 5. August zum ersten Mal vorgeführt und ist ab sofort verfügbar.mehr...
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Zeitaufgelöste Messungen

Für die Materialwissenschaften

Die neue Produktentwicklung StrobeLock der Firma WITec ermöglicht zeitkorrelierte Einzelphotonenzählungen (Time- Correlated Single Photon Counting, TCSPC). Die Darstellungsmodi erlauben Fluorescence-Lifetime-Imaging (FLIM) und zeitaufgelöste Lumineszenz-Messungen.

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