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Artikel und Hintergründe zum Thema

Materialuntersuchung

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Mikrodefekte detektieren

Oberfächenkontrolle

Mit der Integration des patentierten Bildverarbeitungssys-tems trevista in die Prüfzellen der Produktfamilien VVC 610 und VVC 811 der Vester Elektronik wurde der Anwendungsbereich dieser kompletten Systemlösungen jetzt auf weitere Aufgaben der Qualitätskontrolle ausgedehnt.

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Zeitaufgelöste Messungen

Für die Materialwissenschaften

Die neue Produktentwicklung StrobeLock der Firma WITec ermöglicht zeitkorrelierte Einzelphotonenzählungen (Time- Correlated Single Photon Counting, TCSPC). Die Darstellungsmodi erlauben Fluorescence-Lifetime-Imaging (FLIM) und zeitaufgelöste Lumineszenz-Messungen.

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Materialprüfung

Mikrodefekte schnell und eindeutig detektieren

Mit der Integration des patentierten Bildverarbeitungssystems trevista in die Prüfzellen der Produktfamilien VVC 610 und VVC 811 der Vester Elektronik GmbH wird der Anwendungsbereich dieser kompletten Systemlösungen für weitere Aufgaben der Qualitätskontrolle erheblich ausgedehnt.mehr...
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PANalytical führt neue RFA-Analysensoftware ein

PANalytical, der weltweit führende Anbieter von analytischen Röntgensystemen und -software, führt eine neue Software für Röntgenfluoreszenzanalysensysteme (RFA) ein. Das Unternehmen entwickelte Stratos, ein brandneues Softwarepaket sowohl für die Epsilon 3 als auch die Axios Spektrometer.

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