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Artikel und Hintergründe zum Thema

Oberflächenanalytik

Rasterkraftmikroskop

Auch für weniger erfahrene Anwender

Anton Paar hat ein AFM vorgestellt, das speziell für Anwender in der Industrie konzipiert ist. Es verfügt über neue Automatisierungsformen und erhöht damit nicht nur die Effizienz von AFM-Messungen sondern vereinfacht diese auch.

 

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Strom im Fluss

Fließendes Wasser energetisiert Mineralien

Die elektrische Ladung mineralischer Oberflächen verändert sich in fließendem Wasser - die Erkenntnis ist auch für das Verständnis geologischer Prozesse relevant. Wenn Wasser über Glas oder Gestein fließt, passiert chemisch mehr als bisher angenommen. 

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Anton Paar übernimmt CSM

Produktportfolio ausgeweitet

Der österreichische Messgerätehersteller Anton Paar, Graz, hat sein Produktportfolio durch die Übernahme der Schweizer CSM Instruments am 15. November erweitert. Dr. Friedrich Santner, CEO der Anton Paar GmbH: "CSM Instruments ergänzt unsere Produktpalette auf dem Gebiet der Materialcharakterisierung von Oberflächen."

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Ellipsometer UVISEL-2

Mit Visualisierung der Messposition

Das neue spektroskopische Ellipsometer UVISEL-2 von HORIBA Scientific verbindet höchste Messgenauigkeit mit vollständiger Automatisierung und einzigartiger Das neu entwickelte spektroskopische Ellipsometer UVISEL-2 von HORIBA Scientific zeichnet sich durch hohe Empfindlichkeit und Messgenauigkeit aus und dient zur Messung dünnster Schichten auch auf transparenten Substraten wie Glasträgern oder Kunststoff-Folien.

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