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Artikel und Hintergründe zum Thema

Rasterelektronenmikroskopie

Raman-SEM-Imaging

Korrelatives Raman-SEM-Imaging

RISE-Mikroskopie ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem Zeiss Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). RISE steht für Raman Imaging und Scanning Electron Microscopy.

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High Definition FE-REM

Analytik im Nanobereich

Carl Zeiss Microscopy stellt das neue Feldemissions-Raster- elektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet es dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich.

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