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Artikel und Hintergründe zum Thema

REM

Intuitiv bedienbar

Kompakt-REM

Das Jeol JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Es stellt ein einfach zu bedienendes, vielseitig einsetzbares Forschungs-REM in ergonomischer Kompaktausführung dar.

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Analytical Scientist Innovation Awards 2014

RISE-Mikroskopie auf dem Siegertreppchen

Die „The Analytical Scientist Innovation Awards“ (TASIAs) zeichnen Spitzeninnovationen im Bereich der analytischen Chemie aus. Eine Jury aus drei unabhängigen Experten und der Redaktion des Analytical Scientists wählten das Raman-Imaging- und Rasterelektronen-Mikroskop RISE des deutschen Mikroskop-Herstellers WITec auf den zweiten Platz des TASIA 2014.

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High Definition FE-REM

Analytik im Nanobereich

Carl Zeiss Microscopy stellt das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet es dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich.

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High Definition FE-REM

Analytik im Nanobereich

Carl Zeiss Microscopy stellt das neue Feldemissions-Raster- elektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet es dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich.

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Tagungsbericht

Nanoanalytik mit REM, TEM und AFM

Anlässlich des 50. Firmenjubiläums der Firma Bruker hatte die Bruker Nano GmbH am 15. und 16. Juni zu einem wissenschaftlichen Fest-Kolloquium geladen. Über 200 Teilnehmer ließen sich das anspruchsvolle Programm nicht entgehen und kamen in den Bunsensaal des WISTA-Gebäudes in Berlin-Adlershof. Für Nicht-Berliner sei erklärt, dass das Akronym WISTA für Wissenschaftsstandort Adlershof steht.mehr...