RFA(Röntgenfluoreszenzanalyse)

Artikel und Hintergründe zum Thema

Röntgenfluoreszenz-Analysator;

Analyse pharmazeutischer KatalysatorenKompaktes XRF-Tischgerät

Das Unternehmen PANalytical hat auf der diesjährigen Versammlung der American Association of Pharmaceutical Sciences (AAPS) Anfang November in San Diego, Kalifornien (USA), den neuen Epsilon 1 XRF-(Röntgenfluoreszenz-)Analysator vorgestellt.

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Praxisseminar für Einsteiger und...Von der Probenvorbereitung zur RFA

Dieses Anwenderseminar vermittelt einen umfassenden Überblick über die analysenneutrale und reproduzierbare Aufbereitung unterschiedlichster Feststoffproben und die anschließende Analytik.

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Metallanalysator mit App: Gewinn an Komfort und Ergonomie

Metallanalysator mit AppGewinn an Komfort und Ergonomie

Für das aktuelle Modell des SPECTROTEST, den leistungsstärksten mobilen Metallanalysator im Programm, bietet Spectro mit SPECTRO MMA eine neue kostenlose Ablese-App für iPhone, iPod touch und iPad von Apple.

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TermineUmweltanalytik-Seminar

Am 18. Juni findet in den Räumen von SPECTRO in Kleve ein Tagesseminar zur Umweltanalytik statt. Im Theorieteil am Vormittag stehen Probenaufbereitung, Aufschlussverfahren, der Einsatz von Referenzmaterialien sowie die Elementanalyse mit RFA und ICP-OES im Vordergrund.

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Applikationspaket für Edelmetallanalytik: RFA-Handspektrometer

Applikationspaket für EdelmetallanalytikRFA-Handspektrometer

SPECTRO hat das RFA-Handspektrometer SPECTRO xSORT mit einem neuen Applikationspaket für die Edelmetallanalytik ausgestattet. Das portable Gerät ermöglicht sekundenschnell die Identifizierung der Gold- und Silbergehalte in Schmucklegierungen.

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Unternehmen: Analytik Jena beteiligt sich an Techno X

UnternehmenAnalytik Jena beteiligt sich an Techno X

Die Analytik Jena AG hat 21,05 % der Anteile am japanischen Unternehmen Techno X Co., Ltd. übernommen. Der Vertrag wurde am 30. November unterzeichnet.

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Mikrospotanalysator SEA6000VX: Neuer Mikrospot-Analysator

Mikrospotanalysator SEA6000VXNeuer Mikrospot-Analysator

Zur Schichtdickenmessung und Flächenanalyse

Der SEA6000VX ermöglicht sowohl die Messung von Metallspuren und gefährlichen Elementen als auch die Bestimmung von Schichtdicken metallischer Überzüge. Er verfügt über eine Heliumspülung zur Messung der Röntgenfluoreszenzstrahlung leichter Elemente von Na an und ist mit einem elektrisch gekühlten Halbleiter-Detektor für hohen Zählratendurchsatz und einem Dual-Kamera-System ausgestattet.

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Mobiles RFA-Spektrometer Niton XL3t Air: Schichtdickenmessungen at line

Mobiles RFA-Spektrometer Niton XL3t AirSchichtdickenmessungen at line

Gleichmäßig optimale Beschichtungsstärken bei gleichzeitiger Begrenzung der Rohstoffkosten lautet die Forderung der Industrie. Dies soll durch verbesserte Kontrollen im Beschichtungsprozess gewährleistet werden.

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RFA: weitere Informationen

Zum Thema RFA haben wir weitere Informationen für Sie zusammengestellt:

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