WDRFA-Spektrometer
Bruker hat das wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzspektrometer (WDRFA) "S8 TIGER™" der Serie 3 für die Elementanalyse in Industrie und Forschung vorgestellt.
mehr...mehr...Lösungen zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse
Auf der Control 2025 zeigt die Helmut Fischer GmbH Geräte und Systeme für die Schichtdickenmessung, Materialanalyse und Werkstoffprüfung – darunter auch automatisierte Lösungen und präzise Röntgenfluoreszenzgeräte für komplexe Bauteilgeometrien.
mehr...Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
In einer Übersicht stellen Anbieter zahlreiche Röntgenfluoreszenz-Spektrometer mit wesentlichen technischen Daten vor.
mehr...Anwenderseminare an drei Standorten
Von der Probenvorbereitung bis zur Röntgenfluoreszenzanalyse
Eltra, Retsch und Spectro veranstalten im September 2019 an drei verschiedenen Standorten im September erneut das Seminar "Von der Probenvorbereitung bis zur Röntgenfluoreszenzanalyse".
mehr...Spektrometer für Kraftstoff- und Schmierölanalysen
Spectro Analytical Instruments hat das Spectrocube ED-RFA-Spektrometer für die einfache, genaue und zuverlässige Kraftstoff- und Schmierölanalyse eingeführt. Das Spektrometer misst – nach Angaben des Unternehmens – doppelt so schnell wie andere Spektrometer seiner Klasse.
mehr...Spezialist für die Edelmetallanalyse: das neue Mikro-ED-RFA-Spektrometer Spectro Midex
Spectro Analytical Instruments hat die Einführung des neuen Spectro Midex MID05 Spektrometers bekanntgegeben. Die fünfte Generation dieses energiedispersiven Röntgenfluoreszenz-Spektrometers (ED-RFA) ist ein Spezialist für Edelmetallanalysen mit kleinen Messpunkten.
mehr...Röntgenfluoreszenzanalysegerät als Schenkung
SCHOTT unterstützt das OSIM
Ein Röntgenfluoreszenzanalysegerät der Firma SCHOTT ist jetzt im Rahmen einer Schenkung an das Otto-Schott-Institut für Materialforschung (OSIM) der Friedrich-Schiller-Universität in Jena übergeben worden.
mehr...Neue Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
Analyse auch leichter Elemente
PANalytical präsentiert die verbesserten Epsilon 3X Tisch-Röntgenfluoreszenz-Spektrometer. Aufbauend auf der Erfahrung und dem großen Erfolg der ersten Generation wurden die neuen Systeme durch Einsatz der modernsten Entwicklungen von Anregungs- und Detektions-Technologien optimiert.
mehr...Für die Elementanalyse im Bergbau
Vorkalibriertes EDRFA-Tischgerät
PANalytical stellte das neue Epsilon 1 EDRFA-(Energiedispersive Röntgenfluoreszenz-Analyse-)Gerät für vorkalibrierte Analysen von Materialien aus dem Bergbau vor. Entwickelt für die kompakte und kostengünstige Analyse in einer Reihe von Schlüsselindustrien bietet das neue Epsilon 1 eine komplette, hochqualitative Lösung für die Elementanalyse.
mehr...Hitachi High-Technologies Corporation übernahm SII NanoTechnology Inc.
Hitachi High-Technologies Corporation, Japan, hat SII NanoTechnology Inc., Japan, einen der weltweit führenden Hersteller von Material -Analysesystemen auf der Basis der Röntgenfluoreszenz, von Seiko Instruments Inc. übernommen.
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