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Artikel und Hintergründe zum Thema

Röntgenfluoreszenzanalyse

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Mikrospotanalysator SEA6000VX

Neuer Mikrospot-Analysator

Zur Schichtdickenmessung und Flächenanalyse

Der SEA6000VX ermöglicht sowohl die Messung von Metallspuren und gefährlichen Elementen als auch die Bestimmung von Schichtdicken metallischer Überzüge. Er verfügt über eine Heliumspülung zur Messung der Röntgenfluoreszenzstrahlung leichter Elemente von Na an und ist mit einem elektrisch gekühlten Halbleiter-Detektor für hohen Zählratendurchsatz und einem Dual-Kamera-System ausgestattet.

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