Röntgenfluoreszenzspektrometer

Gleichmäßig optimale Beschichtungsstärken bei gleichzeitiger Begrenzung der Rohstoffkosten lautet die Forderung der Industrie. Dies soll durch verbesserte Kontrollen im Beschichtungsprozess gewährleistet werden.

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Mit dem Epsilon 3 führt PANalytical eine neue Baureihe von energiedispersiven Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometern (EDXRF) für die Elementanalyse ein. Sie übertreffen laut Pressemitteilung die konventionellen EDXRF-Systeme in puncto Nachweisstärke, Präzision und Reproduzierbarkeit für alle Elemente von Fluor bis Uran und ersetzen in besonderen Fällen sogar die wesentlich größeren wellenlängendispersiven RFA-Geräte.

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