Laser-Scanning-Mikroskop LEXTEinfacher und präziser: Metrologie mit LEXT 3D

Mit dem neuen LEXT OLS3100 macht Olympus den nächsten Schritt in der Entwicklung konfokaler Laser-Scanning-Mikroskope für exakte 3D-Messungen in der Metrologie. Es reduziert die Notwendigkeit manueller Einstellungen und verbessert den Bedienkomfort für alle Funktionen.