NanostrukturanalytikNeue Messtechnik für Nanostrukturen
Zwei elektrische Isolatoren aneinander bringen und dadurch einen elektrischen Supraleiter erzeugen: Wer solche Phänomene in Nanostrukturen analysieren will, stößt schnell an messtechnische Grenze.
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Röntgeninterferenzmuster, das bei der Untersuchung von komplexen Nano-Schichtstrukturen gemessen wird. Die eingefügte Skizze verdeutlicht den Strahlengang des Röntgenlichts bezüglich der Probenoberfläche. (Grafik: Sebastian Macke)