Analytica 2016 – Automatisierte Mikroprobenanalyse

IR-Mikroskop zur Fehleranalyse

Shimadzu hat auf der analytica erstmals das brandneue AIM-9000-Infrarot-Mikroskop für die automatisierte Mikroprobenanalyse vorgestellt.

Das AIM-9000-Infrarot-Mikroskopsystem bietet eine automatisierte Fehleranalyse für Segmente wie Elektrik und Elektronikindustrie, Maschinenbau und Transportwesen, Pharmazie und Life Sciences, Mineralölindustrie und Chemie.

Das AIM-9000-Infrarot-Mikroskop automatisiert alle notwendigen Schritte, die mit der Fehleranalyse und der Mikroprobenbewertung verbunden sind: Überwachung, Definition von Messpunkten, Messung und Nachweis.

Mit dem AIM-9000 lassen sich Mikroanalysen schnell und einfach durchführen. Die wichtigsten Merkmale der Automatisierung sind:

1. Überwachung
Eine Weitwinkelkamera zoomt automatisch von der Wahrnehmung mit bloßem Auge (10 x 13 mm) bis hinab zur Größe von Verunreinigungen (300 x 400 µm).

2. Definition von Messpunkten, Messung
Die automatische Erkennung von Verunreinigungen stellt die Blende automatisch für die Messpunkte ein. Die Messung der Punkte wird automatisch durchgeführt.

3. Nachweis
Das Analysenprogramm identifiziert das Spektrum automatisch. Die AIMsolution-Software kann mit der LabSolutions IR-Bibliothek nach etwa 12000 Spektren suchen. Verfügbar sind eine Bibliothek mit Kontaminanten von Trinkwasser, eine Bibliothek thermisch-abgebauter Kunststoffe sowie optionale Sadtler‑ und STJ-Bibliotheken. Des Weiteren nutzt das AIM-9000 ein Hochgeschwindigkeits-Mapping mit Visualisierung. Es ist möglich, optisch zu überwachen und gleichzeitig zu messen.

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4. Software und Kompatibilität
Das AIM-9000 wird über die AIMsolution-Software gesteuert, die alle Funktionen zur Probenüberwachung, für die Messungen und die Analyse in sich vereinigt. Zahlreiches Zubehör ergänzt das System. Hierzu gehören Objektive, Polarisatoren, ein Drucksensor oder ein TGS-Detektor.

Das AIM-9000 ist kompatibel mit den IRAffinity-1S- und IRTracer-100-FTIR-Spektrometern von Shimadzu. In Kombination mit einer IRTracer-100-Plattform kann das AIM-9000 ein S/N-Verhältnis von außergewöhnlichen 30000/1 (Transmission, MCT-Detektor, 50 µm Blende, 8 cm-1 Auflösung, 2 min Scan) erreichen.

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