zurück zur Themenseite

Artikel und Hintergründe zum Thema

Materialprüfung

(Materialprüfungen)

Anzeige

Imaging

Segmentierung korrelativer Mikroskopiedaten

Die Zeiss ZEN Intellesis-Plattform ermöglicht eine integrierte Segmentierung mikroskopischer 2D- und 3D-Datensätze für den Routineanwender. Sie ist für alle Licht-, Konfokal-, Röntgen-, Elektronen- und Ionenmikroskope von Zeiss erhältlich.

 

mehr...

Materialwissenschaften

Beobachtung von Phasenübergängen an Oberflächen

In vielen Materialien gibt es Übergänge zwischen verschiedenen Kristallstrukturen. Diese verschiedenen „Phasen“ haben häufig sehr unterschiedliche mechanische, elektronische und magnetische Eigenschaften. Forscher an der Uni Göttingen haben jetzt eine neue Methode vorgestellt, mit der die ultraschnelle Umwandlung zwischen solchen Phasen an Oberflächen beobachtet werden kann.

 

mehr...
Anzeige