Piezo-ScantischeKombination unterschiedlicher Mikroskopietechniken
Größtmögliche Positioniergenauigkeit ist heute in vielen Anwendungsbereichen obligatorisch. Beispiele reichen von der Halbleiterfertigung über die Biotechnologie bis hin zur optischen Messtechnik und Mikroskopie.
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Einfache Integration des Piezoscanners in ein modular aufgebautes Mikroskopiesystem aus dem Hause WITec, das es beispielsweise ermöglicht, ein konfokales Raman-Mikroskop bei Bedarf mit Rasterkraft-Mikroskopie zu kombinieren (AFM).