Über anzahlbasierte Referenzmaterialien für die Charakterisierung von nanoskaligen PartikelnHerausforderung Nanopartikelanalytik
Zwei Autoren berichten über die Entwicklung eines Referenzmaterials für die Nanopartikel-Charakterisierung, was die Kalibrierung analytischer Systeme zum Bestimmen der Partikelanzahlkonzentration in Qualitätskontrolle und Forschung erleichtert.
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Untersuchung von Partikelgröße und -morphologie des Referenzmaterials während der Entwicklungsphase mittels Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Die hochauflösende Bildgebung ermöglicht eine detaillierte Beurteilung von Form und Größenverteilung der Partikel. © Applied Microspheres GmbH