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TiefenprofilanalyseGlimmentladungsspektroskopie

Horiba Scientific ergänzt die Technik der Tiefenprofilanalyse mittels Glimmentladung um eine patentierte Innovation, der direkten Bestimmung der Kratertiefe mittels differentieller Interferometrie (DiP).

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Prinzipielle Funktionsweise des patentierten Verfahrens der differentiellen Interferometrie Profilierung (DiP) bei der Glimmentladungsspektroskopie.
Prinzipielle Funktionsweise des patentierten Verfahrens der differentiellen Interferometrie Profilierung (DiP) bei der Glimmentladungsspektroskopie.
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