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Röntgenfluoreszenz-SpektrometerPunktgenaue Elementanalyse mit Tischgerät

Röntgenfluoreszenz-Spektrometer: Punktgenaue Elementanalyse mit Tischgerät

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FT-IR-Mikroskopiesystem iN10Infrarot-Mikroskopie für Routineanalysen

Das Nicolet™ iN™10 FT-IR-Mikroskop mit neuer OMNIC™ Picta™-Software vereinfacht die Infrarot-Mikroskopie, so dass jetzt auch Mitarbeiter in Analyselabors die Leistungsstärke der FT-IR-Technik in vollem Umfang nutzen können und zuverlässige Ergebnisse erhalten. „Von Darreichungssystemen für Medikamente in fester Form bis hin zu Flachbildschirmen werden Materialstrukturen auf mikroskopischer Ebene immer komplexer“, so Dr. Ian Jardine, Vice President für Forschung und Entwicklung weltweit bei Thermo Fisher Scientific. „Daher wird der Ruf nach Instrumenten zur Untersuchung dieser Strukturen immer lauter. Die Infrarot-Mikroskopie führt die Identifikationsleistung von FT-IR-Analysen mit der Vergrößerungsleistung eines Mikroskops zusammen und ermöglicht auf diese Weise solche Untersuchungen. Die Technik erfordert jedoch ein hohes Qualifikationsniveau, denn sie ergänzt die FT-IR-Messung um eine Reihe zusätzlicher Schritte. Das neue FT-IR-Mikroskop, ausgestattet mit unserer Software, schlägt eine Brücke von der einfachen FT-IR-Spektroskopie zur komplexen Infrarot-Mikroskopie.“

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FT-IR-Mikroskopiesystem iN10: Infrarot-Mikroskopie für Routineanalysen

Dank seiner integrierten Architektur macht das Gerät ein externes Spektrometer überflüssig und bietet zugleich eine außerordentliche optische Effizienz, so dass Daten schnell und problemlos gewonnen werden können. Normalerweise sind für FT-IR-Mikroskope Flüssigstickstoff-gekühlte Detektoren erforderlich. Das iN10 dagegen ist mit einem Raumtemperatur-Detektor ausgestattet, was den zeitlichen und finanziellen Aufwand reduziert und die Risiken einer Kühlung mit Flüssigstickstoff beseitigt. In Kombination mit dem hocheffizienten, aufschiebbaren ATR-Probenzubehör sorgt der Detektor dafür, dass man so schnell und mühelos arbeiten kann wie bei Infrarot-Analysen.

„Allein schon die Probe zu finden und zu messen, das erforderte bisher Zeit und Können“, ergänzt Jardine. „Das neue FT-IR-Mikroskop dagegen ist hochautomatisiert und beinhaltet eine optische Technologie, die das Einlegen, Lokalisieren und Messen von Proben erleichtert. Die OMNIC Picta-Software ist zwar einfach in der Handhabung, stellt jedoch leistungsstarke Analysefunktionen bereit, die aus den Daten umfassende chemische und physikalische Informationen extrahieren. So gelangt der Benutzer schnell, einfach und zuverlässig von der Probe zur Antwort.“

Was die Validierungsmöglichkeiten angeht, so konnte die Infrarot-Mikroskopie bisher nicht mit der FT-IR-Technologie mithalten. Dies führte bei dieser Technik zu Akzeptanzproblemen für kontrollierte Anwendungen. Das neue Gerät lässt sich im Reflexions-, Transmissions- und ATR-Modus validieren, was die Leistungsüberprüfung des Instruments für Benutzer im regulierten Umfeld vereinfacht.

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