Neue Berechnungen verbessern Auflösung und Anwendung der AFM-IR-Mikroskopie
Ein neues Modell der TU Wien ermöglicht es, das Auflösungsvermögen der Rasterkraftmikroskopie-Infrarotspektroskopie (AFM-IR) präzise zu berechnen.
Kombination unterschiedlicher Mikroskopietechniken
Größtmögliche Positioniergenauigkeit ist heute in vielen Anwendungsbereichen obligatorisch. Beispiele reichen von der Halbleiterfertigung über die Biotechnologie bis hin zur optischen Messtechnik und Mikroskopie.
mehr...Für die Materialwissenschaften
Die neue Produktentwicklung StrobeLock der Firma WITec ermöglicht zeitkorrelierte Einzelphotonenzählungen (Time- Correlated Single Photon Counting, TCSPC). Die Darstellungsmodi erlauben Fluorescence-Lifetime-Imaging (FLIM) und zeitaufgelöste Lumineszenz-Messungen.
mehr...Nanoanalytik mit REM, TEM und AFM
mehr...
