Neue Berechnungen verbessern Auflösung und Anwendung der AFM-IR-Mikroskopie
Ein neues Modell der TU Wien ermöglicht es, das Auflösungsvermögen der Rasterkraftmikroskopie-Infrarotspektroskopie (AFM-IR) präzise zu berechnen.
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Kombination unterschiedlicher Mikroskopietechniken
Größtmögliche Positioniergenauigkeit ist heute in vielen Anwendungsbereichen obligatorisch. Beispiele reichen von der Halbleiterfertigung über die Biotechnologie bis hin zur optischen Messtechnik und Mikroskopie.
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