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Carl Zeiss Microscopy stellt das neue Feldemissions-Raster- elektronenmikroskop (FE-REM) SIGMA HD vor. Im Vergleich zur bestehenden SIGMA-Serie bietet es dem Kunden eine höhere Auflösung, schnellere Bildgebung und vereinfachte Probennavigation für Analysen im Nanobereich.
mehr...Das FIB-SEM AURIGA Compact ermöglicht hochaufgelöste 3D-Bilder und -Analysen und erlaubt so eine präzise Materialbearbeitung. Anwendung findet AURIGA Compact bei der 3D-Analyse und -Abbildung, der TEM-Lamellen-Präparation sowie in der Materialbearbeitung und Nanostrukturierung.
mehr...Kolloquium der Bruker Nano GmbH in Berlin-Adlershof
Ötzi, Nanowires, Qumran-Rollen, Jahresringe, Strommarken: Das diesjährige Kolloquium der Bruker Nano GmbH deckte ein breites wissenschaftliches Spektrum ab.
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