Neuer Mikrospot-Analysator
Zur Schichtdickenmessung und Flächenanalyse
Der SEA6000VX ermöglicht sowohl die Messung von Metallspuren und gefährlichen Elementen als auch die Bestimmung von Schichtdicken metallischer Überzüge. Er verfügt über eine Heliumspülung zur Messung der Röntgenfluoreszenzstrahlung leichter Elemente von Na an und ist mit einem elektrisch gekühlten Halbleiter-Detektor für hohen Zählratendurchsatz und einem Dual-Kamera-System ausgestattet.












