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Das neue spektroskopische Ellipsometer UVISEL-2 von HORIBA Scientific verbindet höchste Messgenauigkeit mit vollständiger Automatisierung und einzigartiger Das neu entwickelte spektroskopische Ellipsometer UVISEL-2 von HORIBA Scientific zeichnet sich durch hohe Empfindlichkeit und Messgenauigkeit aus und dient zur Messung dünnster Schichten auch auf transparenten Substraten wie Glasträgern oder Kunststoff-Folien.
mehr...Die preisgekrönte TrueSurface-Mikroskopie von WITec ist jetzt auch als integrierbare Option für die alpha300-Mikroskop-Serie erhältlich. Das neue Abbildungssystem ist auch als Upgrade für bereits installierte alpha300- und alpha500-Systeme verfügbar.
mehr...Die preisgekrönte TrueSurface Mikroskopie von WITec ist jetzt auch als integrierbare Option für die alpha300 Mikroskop-Serie erhältlich. Damit ist topographisches Raman-Imaging an großen Proben nun mit allen WITec Mikroskopen möglich.
mehr...Optische Profilometer
Heliotis und Digital Surf haben bekanntgegeben, dass die MountainsMap® Imaging Topography Oberflächen-Metrologie-Software, die auf Digital Surf‘s Mountains-Technology® basiert, mit den optischen Profilometern M3 und M3-XL 3D von Heliotis geliefert wird.
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