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Auf der vom 24. bis 27. September 2013 in Basel stattfindenden Ilmac, der Fachmesse für Prozess- und Labortechnologie, zeigt SPECTRO die drei Geräte SPECTRO XEPOS, SPECTROSCOUT und SPECTROBLUE. Diese decken verschiedene Einsatzbereiche in der Elementanalytik der unterschiedlichsten Industrien ab. Messebesucher finden das Unternehmen in Halle 1.1 am Stand C87.
mehr...Profis analysieren Edelmetalle vor dem Ankauf sehr genau. Dass das weder zeitaufwendig noch kompliziert sein muss, beweist das neue Spektrometer Niton DXL aus dem Hause analyticon instruments.
mehr... Die Analytik Jena AG hat 21,05 % der Anteile am japanischen Unternehmen Techno X Co., Ltd. übernommen. Der Vertrag wurde am 30. November unterzeichnet.
mehr...Profis analysieren Edelmetalle vor dem Ankauf sehr genau. Dass das weder zeitaufwendig noch kompliziert sein muss, beweist das neue Spektrometer Niton DXL aus dem Hause analyticon instruments.
mehr...Zur Schichtdickenmessung und Flächenanalyse
Der SEA6000VX ermöglicht sowohl die Messung von Metallspuren und gefährlichen Elementen als auch die Bestimmung von Schichtdicken metallischer Überzüge. Er verfügt über eine Heliumspülung zur Messung der Röntgenfluoreszenzstrahlung leichter Elemente von Na an und ist mit einem elektrisch gekühlten Halbleiter-Detektor für hohen Zählratendurchsatz und einem Dual-Kamera-System ausgestattet.
mehr...Partikelgrößenverteilung
PANalytical zeigte auf der diesjährigen POWTECH (11.–13. Oktober, Nürnberg) eine Auswahl aktueller Geräte zur chemischen und strukturellen Charakterisierung von Partikeln. Zum einen wurden die neuen Diffraktometer der Baureihen Empyrean und X’Pert Powder vorgestellt.
mehr...SPECTRO Analytical Instruments stellt die neueste Generation des energiedispersiven Handheld-RFA-Spektrometers SPECTRO xSORT vor. Das aktuelle Modell präsentiert sich noch kompakter und leichter als sein Vorgänger, erreicht eine bessere analytische Leistung und eröffnet den Anwendern Zugriff auf eine Vielzahl attraktiver neuer Funktionen.
mehr...SPECTRO Analytical Instruments, Anbieter von Analysengeräten auf dem Gebiet der Optischen Emissions- und Röntgenfluoreszenzspektrometrie, bietet im Internet unter www.spectrolive.com jetzt das interaktive Kundenmagazin SPECTROLive an.
mehr...Gleichmäßig optimale Beschichtungsstärken bei gleichzeitiger Begrenzung der Rohstoffkosten lautet die Forderung der Industrie. Dies soll durch verbesserte Kontrollen im Beschichtungsprozess gewährleistet werden.
mehr...Mit dem Epsilon 3 führt PANalytical eine neue Baureihe von energiedispersiven Benchtop-Röntgenfluoreszenzspektrometern (EDXRF) für die Elementanalyse ein. Sie übertreffen laut Pressemitteilung die konventionellen EDXRF-Systeme in puncto Nachweisstärke, Präzision und Reproduzierbarkeit für alle Elemente von Fluor bis Uran und ersetzen in besonderen Fällen sogar die wesentlich größeren wellenlängendispersiven RFA-Geräte.
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